- 水素・酸素・窒素分析装置
-
- 炭素・硫黄分析装置
-
- 微量酸素計
-
- 全有機炭素計
- 引張圧縮試験機
-
- ブリネル硬さ試験機
-
- マイクロビッカース硬さ試験機
-
- ロックウェル硬さ試験機
-
- 破壊靭性試験装置
-
- 油圧サーボ型疲労試験機
-
- 往復摺動摩耗試験機
-
- フレッチング摩耗試験機
-
- 高周速摩耗試験機
-
- ピンオンディスク摩耗試験機
-
- ワンショット3D形状測定機
- 走査電子顕微鏡（SEM−EDX）
-
- 走査透過電子顕微鏡(STEM)
-
- 透過電子顕微鏡(TEM)
-
- 集束イオンビーム加工観察装置（FIB）
-
- 電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
-
- エネルギー分散型X線元素分析装置（EDX）
-
- 走査電子顕微鏡後方散乱回折装置(SEM-EBSD)
-
- ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS)
-
- 液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/MSMS)
-
- 高周波誘導結合プラズマ質量分析装置（ICP-MS）
-
- 高分解能ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC/MS)
-
- FineSAT V
-
- 汎用型X線残留応力測定装置
-
- ポータブルX線残留応力測定装置
-
- 複合サイクル試験装置
-
- 塩水噴霧装置
-
- 電気化学測定試験装置
-
- ガス腐食試験機
-
- 露点計
-
- 示差熱熱重量同時測定装置（リアルビューTG-DTA）
-
- 示差走査熱量測定装置（DSC）
-
- 高圧示差走査熱量測定装置（HP-DSC）
-
- 昇温脱離ガス分析装置(TDS)
-
- 電気化学インピーダンス分光装置
-
- 高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置（ICP-AES）
-
- Ｘ線回折(XRD)
-
- Ｘ線光電子分光分析（XPS）
-
- オージェ電子分光分析(AES)
-
- フーリエ変換赤外分光分析装置（FT-IR)
-
- 原子吸光光度計（AAS）
-
- 高周波グロー放電発光分光分析(rf-GD-OES)
-
- 分光光度
-
- 核磁気共鳴分析装置（NMR)
-
- イオンクロマトグラフ（IC）
-
- ガスクロマトグラフ(GC)
-
- 液体クロマトグラフ（HPLC）
-
- 燃焼イオンクロマトグラフ（IC）
-
- Ge半導体検出器
-
- 微量α線測定装置
-
- NaIシンチレーションサーベイメータ
-
- GM計数管式サーベイメータ
-
//他ページのリンクから移動してきた際にトグルを開いておく処理
jQuery(function() {
//リンクからハッシュを取得
var hash = location.hash;
var hashStr = hash.replace( /#/g,"");
//チェックボックスを開く処理
$('input:checkbox[name="' + hashStr + '"]').prop('checked',true);
});
0120-283-150