物理的現象を利用した、元素分析、表面分析、結晶構造解析、形態観察、結合状態解析、有機構造解析などの機器分析対応技術をご案内します。
X線を照射して物質特有の角度に回折(反射)するX線を捕えることにより、化合物種同定や結晶構造解析が可能です。評価可能な材料は、粉末・バルク材・微小異物・薄膜・単結晶・ナノ粒子等多岐に亘ります。
様々な目的に対応可能な測定機種とアタッチメントを用いて、多様なニーズにお応えします。
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